IC 디자인의 규모가 커지고 통합되는 온칩 IP가 더 많아짐에 따라, 전통적인 DFT 프로세스를 보다 작고 관리하기 쉬운 요소들로 나누는 계층적 DFT 접근방식을 채택하는 엔지니어들이 점점 더 늘어나고 있다. 하지만 계층적 구성 요소와 기술을 사용하기 위해 기존의 흐름과 자동화를 개보수(retrofitting)하는 작업은 시간과 비용이 많이 드는 일련의 비효율성을 야기하는 경우가 많다. 개발자들은 설계 규모가 커지고 품질 요건이 더욱 엄격해짐에 따라 테스트 구현 비용을 절감할 수 있는 길을 끊임없이 모색하고 있다.

멘토, 지멘스 비즈니스(대표 김준환)는 26일 오토모티브 IC 시스템에 적용되는 모든 IC 테스트의 결함을 측정하고 진단하는 ‘테센트 세이프티(Tessent™ Safety)’ 에코시스템과 설계 자동화로 IC 테스트 구현 비용 절감할 수 있는 ‘테센트 커넥트(Tessent Connect)’를 발표했다.

테센트 커넥트(Tessent Connect)은 DFT(테스트용설계) 자동화 방법론에 의해 실현되는 의도 지향형의 계층적 테스트 솔루션으로서, IC 설계 팀이 제조 테스트 품질 목표를 기존의 DFT 방식보다 빠르고 적은 리소스가 활용된다. 함께 발표된 ‘테센트 커넥트 퀵스타트(Tessent Connect Quickstart)’는 멘토의 애플리케이션 및 컨설팅 서비스 엔지니어들의 상세한 흐름 평가 서비스를 제공한다.

멘토의 텐센트 커넥트 자동화 접근방법은 계층적 DFT를 지원하도록 설계됐다. IC 디자이너는 단계별 지침보다는 의도하는 결과를 기술하는 보다 높은 추상화 수준을 이용해 Tessent 소프트웨어 설계 툴과 상호작용하게 된다. 이러한 추상화 기반 접근방법으로 서로 다른 DFT 팀들 간의 원활한 협업, IC 구성요소의 플러그 앤 플레이 방식 재사용, 턴어라운드 시간의 대폭 단축, 그리고 수많은 시간 소모적인 설정, 연결성 및 패턴 생성 작업의 자동화가 가능하다.

테센트 커넥트 퀵스타트 프로그램은 맞춤화된 통찰력과 서비스를 위한 전문지식을 제공한다. 이는 IC 설계 팀이 테센트 커넥트(Tessent Connect)를 사용할 때 DFT 프로세스를 완전히 최적화 및 자동화할 수 있도록 지원한

테센트 세이프티 에코시스템은 멘토의 자동차 반도체 안전 표준인 ISO 26262 적격성을 유지해 주는 동급 최상 자동차 IC 테스트 솔루션의 종합 포트폴리오로서 업계 유수의 파트너들과의 협력 및 연결을 통해 IC 설계 팀이 갈수록 더 엄격해지고 있는 전 세계 자동차 업계의 기능 안전 요건에 부응할 수 있도록 지원한다. 독립적인, 반도체 및 단일 소스 모델 기반 경쟁 프로그램들에 대한 대안을 제공한다.

IC 테스트 기능 안전성 보장에 대한 멘토의 개방형 에코시스템 접근방법을 통해 칩 제조업체는 멘토의 업계를 선도하는 IC 테스트 기술을 다른 동급 최강의 솔루션들과 결합하여 보다 완전하며 고성능인 최종 솔루션을 실현할 수 있다.

멘토, 지멘스 비즈니스의 테센트(Tessent) 제품군 부문 제너럴 매니저인 브래디 벤웨어(Brady Benware) 부사장은 “우리의 고객들은 테센트 커넥트와 퀵스타트 를 통해 DFT 사인오프를 가속화 및 자동화 할 수 있게 되었다”라며 “자동차 IC 디자이너들은 IC 테스트 성능을 가속화하기 위해 DFT 기술과 비 DFT 기술을 포함한 모든 온칩 안전 메커니즘을 긴밀하게 결합해야 한다. 이러한 접근방법은 멘토의 새로운 테센트 세이프티 에코시스템에 있어서 기본적인 요소다”라고 밝혔다.

이향선기자 hslee@nextdaily.co.kr